Appels d'offres — Scanning electron microscopes
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Appels d'offres actifs (3)
Appels d'offres récemment clôturés (10)
Microscope électronique à balayage
Allemagne — Fourniture d'un microscope électronique à balayage avec système EDXS
Allemagne — Remplacement du microscope électronique à balayage FEI XL30
République tchèque — Achat d'un microscope électronique à balayage
France — Microscope électronique à balayage pour l'université de technologie de Compiègne
République tchèque — Microscope électronique à balayage avec système EDS
Allemagne — Microscope électronique à balayage
Espagne — Microscope électronique à balayage avec EDX pour résidus de tir
Irlande — Système d'inspection et d'imagerie 3D pour UCC
Chypre — Équipement de laboratoire pour le département des sciences marines du TEPAK
Contrats attribués (10)
DFG-Großgerät: Rasterelektronenmikroskop mit energiedispersiver Röntgenspektroskopie (REM/EDX)
Aquisição de 1 (um) sistema de microscopia duplo de Feixe de Iões Focalizado (FIB) acoplado a Microscópio Eletrónico de Varrimento por emissão de campo (FEG-SEM) para o Laboratório Associado CICECO Instituto de Materiais de Aveiro
AFM - Atomic Force Microscope
FORNITURA DI STRUMENTAZIONE TECNICO SCIENTIFICA PER IL RAFFORZAMENTO DELLE RISORSE STRUMENTALI DELLE STRUTTURE DELL'ISS NELL'AMBITO DEL PNC SALUTE AMBIENTE BIODIVERSITA E CLIMA, SUDDIVISO IN 16 LOTTI
Suministro e instalación de un microscopio electrónico de barrido, un equipo de medida de propiedades físicas y un equipo de fluorimetría, destinado al Instituto de Ciencia de Materiales de Barcelona de la Agencia Estatal Consejo Superior de Investigaciones Científicas.
Suministro e instalación de un microscopio electrónico de barrido, un equipo de medida de propiedades físicas y un equipo de fluorimetría, destinado al Instituto de Ciencia de Materiales de Barcelona de la Agencia Estatal Consejo Superior de Investigaciones Científicas.
Dodávka laboratorního a analytického vybavení pro projekt EU4Moldova SFS – Production
Plasma FIB/SEM for room-temperature and cryogenic applications
38511100-1
Achizitie microscoape
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Appels d'offres scanning electron microscopes par pays
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Quels codes CPV couvrent Scanning electron microscopes ?
Les appels d'offres de cette catégorie sont classés sous des codes CPV tels que 38511100. Le code CPV définit l'objet du marché et sert à rechercher et filtrer les appels d'offres pertinents.
Comment trouver des appels d'offres scanning electron microscopes en Europe ?
Cette page recense les appels d'offres européens actifs pour scanning electron microscopes. Avec Tenderwize, vous pouvez filtrer par pays et code CPV et configurer des alertes pour recevoir automatiquement les nouveaux appels d'offres correspondants.
Qui achète généralement scanning electron microscopes ?
Les acheteurs typiques sont les ministères, les municipalités, les universités, les hôpitaux et les entreprises publiques. L'acheteur spécifique de chaque appel d'offres est indiqué dans les fiches sur cette page.
Les PME peuvent-elles remporter des marchés publics scanning electron microscopes ?
Oui. De nombreux contrats sont divisés en lots adaptés aux PME. Vérifiez toujours les exigences spécifiques de chiffre d'affaires, d'expérience et de certification dans chaque avis.
Comment évaluer une opportunité d'appel d'offres scanning electron microscopes ?
Évaluez l'éligibilité, l'expérience, les ressources, le risque et la valeur commerciale. Tenderwize calcule un Opportunity Score et une recommandation bid/no-bid à partir des documents de l'appel d'offres et du profil de votre entreprise.