Équipements de recherche avancés pour COPE-Nano
Titre original de l'avis
Greece – Scanning electron microscopes – Προμήθεια προηγμένου ερευνητικού εξοπλισμού για το Ευρωπαϊκό Κέντρο Αριστείας COPE-Nano.
Score d'opportunité
Pourquoi ce score ?
Opportunité
0 / 100
Complexité
0 / 100
Analyse approfondie du portefeuille
Utilise:
- Description
- Industries & Services
- Capabilities
- Market & Experience
- Certifications
Informations clés
- Pouvoir adjudicateur
- ΕΙΔΙΚΟΣ ΛΟΓΑΡΙΑΣΜΟΣ ΚΟΝΔΥΛΙΩΝ ΕΡΕΥΝΑΣ ΑΠΘ
- Pays
- Grèce
- CPV
- 38511100 - Scanning electron microscopes +6 autres
- Date limite
- Dec 09, 2026
Analyse IA de l'appel d'offres
Tenderwize prépare une analyse IA de cet appel d'offres à partir de l'avis TED et des documents de consultation : périmètre, exigences clés, critères de sélection, risques et questions à poser à l'acheteur. L'analyse est générée à l'ouverture de l'appel d'offres.
Acheteur
Localisation
Θεσσαλονικη, GRC
Site web
Profil acheteur
Identifiant
1020.Ε00324.0001
Activité
Education
Lots (8)
LOT-0001
Τμήμα 1: Περιβαλλοντικό Ηλεκτρονικό Μικροσκόπιο Σάρωσης Πεδίου Εκπομπής (FEG-ESEM)
Τμήμα 1: Περιβαλλοντικό Ηλεκτρονικό Μικροσκόπιο Σάρωσης Πεδίου Εκπομπής (FEG-ESEM)
EUR 290k
Valeur estimée
Localisation
Durée
Catégorie
Détails des critères
Τμήμα 1: Περιβαλλοντικό Ηλεκτρονικό Μικροσκόπιο Σάρωσης Πεδίου Εκπομπής (FEG-ESEM)
LOT-0002
Τμήμα 2: Σύστημα Φασματοσκοπικής Ελλειψομετρίας DUV–VIS–NIR
Τμήμα 2: Σύστημα Φασματοσκοπικής Ελλειψομετρίας DUV–VIS–NIR
EUR 190k
Valeur estimée
Localisation
Durée
Catégorie
Détails des critères
Τμήμα 2: Σύστημα Φασματοσκοπικής Ελλειψομετρίας DUV–VIS–NIR
LOT-0003
Τμήμα 3: Σύστημα Φασματοφωτομέτρου FTIR Ερευνητικού Τύπου
Τμήμα 3: Σύστημα Φασματοφωτομέτρου FTIR Ερευνητικού Τύπου
EUR 70k
Valeur estimée
Localisation
Durée
Catégorie
Détails des critères
Τμήμα 3: Σύστημα Φασματοφωτομέτρου FTIR Ερευνητικού Τύπου
LOT-0004
Τμήμα 4: Σύστημα Μικροκατεργασίας Υλικών με Laser Υπερβραχέων Παλμών (Femtosecond)
Τμήμα 4: Σύστημα Μικροκατεργασίας Υλικών με Laser Υπερβραχέων Παλμών (Femtosecond)
EUR 580k
Valeur estimée
Localisation
Durée
Catégorie
Détails des critères
Τμήμα 4: Σύστημα Μικροκατεργασίας Υλικών με Laser Υπερβραχέων Παλμών (Femtosecond)
LOT-0005
Τμήμα 5: Σύστημα Μικροσκοπίας Raman Ερευνητικού Τύπου
Τμήμα 5: Σύστημα Μικροσκοπίας Raman Ερευνητικού Τύπου
EUR 216.2k
Valeur estimée
Localisation
Durée
Catégorie
Détails des critères
Τμήμα 5: Σύστημα Μικροσκοπίας Raman Ερευνητικού Τύπου
LOT-0006
Τμήμα 6: Σύστημα Μικροσκοπίας Σάρωσης Ατομικών Δυνάμεων (Scanning Probe Microscope)
Τμήμα 6: Σύστημα Μικροσκοπίας Σάρωσης Ατομικών Δυνάμεων (Scanning Probe Microscope)
EUR 250k
Valeur estimée
Localisation
Durée
Catégorie
Détails des critères
Τμήμα 6: Σύστημα Μικροσκοπίας Σάρωσης Ατομικών Δυνάμεων (Scanning Probe Microscope)
LOT-0007
Τμήμα 7: Ψηφιακό Σύστημα Εναπόθεσης Υλικών, Αυτοματοποιημένης Μικροσυναρμολόγησης και Συγκόλλησης σε Υποστρώματα από Ύφασμα και PET
Τμήμα 7: Ψηφιακό Σύστημα Εναπόθεσης Υλικών, Αυτοματοποιημένης Μικροσυναρμολόγησης και Συγκόλλησης σε Υποστρώματα από Ύφασμα και PET
EUR 190k
Valeur estimée
Localisation
Durée
Catégorie
Détails des critères
Τμήμα 7: Ψηφιακό Σύστημα Εναπόθεσης Υλικών, Αυτοματοποιημένης Μικροσυναρμολόγησης και Συγκόλλησης σε Υποστρώματα από Ύφασμα και PET
LOT-0008
Τμήμα 8: Φορητή Διάταξη Μέτρησης Φωτοσύνθεσης
Τμήμα 8: Φορητή Διάταξη Μέτρησης Φωτοσύνθεσης
EUR 77k
Valeur estimée
Localisation
Durée
Catégorie
Détails des critères
Τμήμα 8: Φορητή Διάταξη Μέτρησης Φωτοσύνθεσης
Détails de la procédure
- Date de publication
- 08 Nov 2026
- Langues
- Greek
Métadonnées de référence
- Base juridique
- 32014L0024
Identifiants de référence
- ID de l'appel d'offres
- 777967-2026
Documents (1)
Appels d'offres similaires
Spain – Microelectronic machinery and apparatus and microsystems – Suministro de sistema de grabado mediante haz iónico (Ion beam Etching - IBE)
Czechia – Detection and analysis apparatus – Analytické vybavení pro chemickou laboratoř CirkArena – UTB
Spain – Spectrometers – Espectrómetro de masas de relaciones isotópicas
Malta – Analysis apparatus – WSC/T/049/2026 - SUPPLIES - SUPPLY, DELIVERY, AND 3-YEAR MAINTENANCE SUPPORT OF WATER QUALITY DISINFECTION MONITORING STATIONS FOR THE WATER SERVICES CORPORATION
Italy – Spectrum analyser – Fornitura di una piattaforma aperta per l'analisi di superfici mediante spettroscopia di fotoelettroni (XPS).
Germany – Construction work of elevated tanks for drinking water – HB Lewerberg III - Neubau: Los 3 - EMSR-Technik
Score d'opportunité
Pourquoi ce score ?
Opportunité
0 / 100
Complexité
0 / 100
Analyse approfondie du portefeuille
Utilise:
- Description
- Industries & Services
- Capabilities
- Market & Experience
- Certifications