Scanning electron microscopes Ausschreibungen
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Kürzlich geschlossene Ausschreibungen (10)
Schweiz — Anschaffung eines Rasterelektronenmikroskops
Frankreich — Rasterelektronenmikroskop mit EDS-Spektrometer und Zubehör
Schweden — Fokussiertes Ionenstrahl-Rasterelektronenmikroskop (FIB-SEM)
Rasterelektronenmikroskop
Deutschland — Lieferung eines Rasterelektronenmikroskops mit EDXS-System
Deutschland — Erneuerung des Rasterelektronenmikroskops FEI XL30
Tschechien — Kauf eines Rasterelektronenmikroskops
Frankreich — Rasterelektronenmikroskop für die Universität Technologie Compiègne
Tschechien — Rasterelektronenmikroskop mit EDS-System
Deutschland — Rasterelektronenmikroskop
Vergebene Aufträge (10)
Lieferung eines Rasterelektronenmikroskops mit EDX-System
Furnizare echipamente științifice – P04 – Microscopie și imagistică
DFG-Großgerät: Rasterelektronenmikroskop mit energiedispersiver Röntgenspektroskopie (REM/EDX)
Aquisição de 1 (um) sistema de microscopia duplo de Feixe de Iões Focalizado (FIB) acoplado a Microscópio Eletrónico de Varrimento por emissão de campo (FEG-SEM) para o Laboratório Associado CICECO Instituto de Materiais de Aveiro
AFM - Atomic Force Microscope
FORNITURA DI STRUMENTAZIONE TECNICO SCIENTIFICA PER IL RAFFORZAMENTO DELLE RISORSE STRUMENTALI DELLE STRUTTURE DELL'ISS NELL'AMBITO DEL PNC SALUTE AMBIENTE BIODIVERSITA E CLIMA, SUDDIVISO IN 16 LOTTI
Suministro e instalación de un microscopio electrónico de barrido, un equipo de medida de propiedades físicas y un equipo de fluorimetría, destinado al Instituto de Ciencia de Materiales de Barcelona de la Agencia Estatal Consejo Superior de Investigaciones Científicas.
Suministro e instalación de un microscopio electrónico de barrido, un equipo de medida de propiedades físicas y un equipo de fluorimetría, destinado al Instituto de Ciencia de Materiales de Barcelona de la Agencia Estatal Consejo Superior de Investigaciones Científicas.
Dodávka laboratorního a analytického vybavení pro projekt EU4Moldova SFS – Production
Plasma FIB/SEM for room-temperature and cryogenic applications
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Welche CPV-Codes decken Scanning electron microscopes ab?
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Wie finde ich scanning electron microscopes-Ausschreibungen in Europa?
Diese Seite listet aktive europäische Ausschreibungen für scanning electron microscopes. Mit Tenderwize können Sie nach Land und CPV-Code filtern und Benachrichtigungen für neue passende Ausschreibungen einrichten.
Wer beschafft üblicherweise scanning electron microscopes?
Typische Auftraggeber sind Ministerien, Kommunen, Universitäten, Krankenhäuser und staatliche Unternehmen. Der jeweilige Auftraggeber wird in den Ausschreibungskarten auf dieser Seite angezeigt.
Können KMU öffentliche Ausschreibungen für scanning electron microscopes gewinnen?
Ja. Viele Aufträge sind in Lose aufgeteilt und für KMU geeignet. Prüfen Sie stets die spezifischen Anforderungen an Umsatz, Erfahrung und Zertifizierung in der jeweiligen Bekanntmachung.
Wie bewerte ich eine scanning electron microscopes-Ausschreibungschance?
Prüfen Sie Eignung, Erfahrung, Ressourcen, Risiko und wirtschaftlichen Wert. Tenderwize berechnet einen Opportunity Score und eine Bid/No-Bid-Empfehlung auf Basis der Ausschreibungsunterlagen und Ihres Unternehmensprofils.