Tenderwize
Wróć do wyszukiwania

Acquisition of a field emission gun scanning electron microscope (MEB FEG) with variable pressure

Université de Technologie de Compiègne·Compiegne, France·EUR 0·Expired · Jul 10, 2026·Open·Supplies
Structured notice only
Oryginalny tytuł ogłoszenia

France – Scanning electron microscopes – Acquisition d'un microscope électronique à balayage, field emission gun (MEB FEG), à pression variable pour l'université de technologie de Compiègne

50/100

Ocena szansy

Needs reviewMedium complexity
SuppliesExpired
Skąd ta ocena?

Szansa

50 / 100

Złożoność

60 / 100

Czynniki ryzyka

No estimated value is given (0 EUR placeholder). Bidders cannot assess if budget is sufficient or anticipate competitio...

Discrepancy between structured data deadline (2026-07-10 10:00) and XML notice (2026-07-10 12:00). May cause late submi...

Głęboka analiza portfolio

Głęboka analiza dopasowania firmy

Wykorzystuje:

  • Description
  • Industries & Services
  • Capabilities
  • Market & Experience
  • Certifications

Przegląd

Moderate opportunity

Kluczowe fakty

  • EUR 0 estimated value
  • Supplies contract
  • 1 lot
  • Duration 10 MONTH
  • Supply of one field emission gun scanning electron microscope (MEB FEG) with variable pressure capability
  • Delivery and installation at Université de Technologie de Compiègne, Compiègne, France
Pokaż pełne podsumowanie

This tender, issued by Université de Technologie de Compiègne (UTC), concerns the acquisition of a field emission gun scanning electron microscope (MEB FEG) with variable pressure capability, for delivery in Compiègne, France. The contract is for supplies, EU-funded, and follows an open procedure. The deadline for submission is 2026-07-10, with a time discrepancy (10:00 UTC vs 12:00 CET) that needs clarification. The estimated value is reported as 0 EUR, likely a placeholder. Award criteria are 70% technical quality (with sub-criteria), 20% price, and 10% after-sales service quality. Selection criteria are not specified. Procurement documents are available online but were not analyzed.

Ryzyka

No estimated value is given (0 EUR placeholder). Bidders cannot assess if budget is sufficient or anticipate competitio...

Discrepancy between structured data deadline (2026-07-10 10:00) and XML notice (2026-07-10 12:00). May cause late submi...

Analiza może być niepełna

Przeanalizowano tylko część dokumentacji. Pozostałe dokumenty mogą zawierać dodatkowe wymagania, certyfikaty lub dokumenty do złożenia.

Kluczowe wymagania

Technical

  • EU funding requires compliance with EU procurement rules

Administrative

  • Open procedure: any interested party may submit a tender
  • Electronic submission via achatpublic.com is required

Wymagania mogą być niepełne.

Kryteria udzielenia

Lot 1

Technical value 70% (sample analysis, features, software)70%Price 20%20%After-sales service 10% (warranty, support, spare parts)10%

Zamawiający

Lokalizacja

Compiegne, FRA

Profil zamawiającego

Otwórz profil

Identyfikator

19601223100169

Działalność

Education

Części (1)

LOT-0001

Acquisition of a field emission gun scanning electron microscope (MEB FEG) with variable pressure

Supply and delivery of one MEB FEG microscope, including associated software, warranty, and after-sales support. Duration 10 months. EU-funded.

SuppliesEU fundedElectronic submission

EUR 0

Szacowana wartość

Lokalizacja

Compiègne, France

Czas trwania

10 MONTH

Kategoria

Scanning electron microscopes

Kryteria udzielenia

Price

Termin

Expired Jul 10, 2026

Szczegóły zamówienia

Data publikacji
09 Jun 2026
Języki
French

Metadane referencyjne

Podstawa prawna
32014L0024

Identyfikatory referencyjne

ID przetargu
397687-2026

Dokumenty (2)

Podobne przetargi