Acquisition of a field emission gun scanning electron microscope (MEB FEG) with variable pressure
Oryginalny tytuł ogłoszenia
France – Scanning electron microscopes – Acquisition d'un microscope électronique à balayage, field emission gun (MEB FEG), à pression variable pour l'université de technologie de Compiègne
Ocena szansy
Skąd ta ocena?
Szansa
50 / 100
Złożoność
60 / 100
Czynniki ryzyka
No estimated value is given (0 EUR placeholder). Bidders cannot assess if budget is sufficient or anticipate competitio...
Discrepancy between structured data deadline (2026-07-10 10:00) and XML notice (2026-07-10 12:00). May cause late submi...
Głęboka analiza portfolio
Wykorzystuje:
- Description
- Industries & Services
- Capabilities
- Market & Experience
- Certifications
Przegląd
Moderate opportunityKluczowe fakty
- EUR 0 estimated value
- Supplies contract
- 1 lot
- Duration 10 MONTH
- Supply of one field emission gun scanning electron microscope (MEB FEG) with variable pressure capability
- Delivery and installation at Université de Technologie de Compiègne, Compiègne, France
Pokaż pełne podsumowanie
This tender, issued by Université de Technologie de Compiègne (UTC), concerns the acquisition of a field emission gun scanning electron microscope (MEB FEG) with variable pressure capability, for delivery in Compiègne, France. The contract is for supplies, EU-funded, and follows an open procedure. The deadline for submission is 2026-07-10, with a time discrepancy (10:00 UTC vs 12:00 CET) that needs clarification. The estimated value is reported as 0 EUR, likely a placeholder. Award criteria are 70% technical quality (with sub-criteria), 20% price, and 10% after-sales service quality. Selection criteria are not specified. Procurement documents are available online but were not analyzed.
Ryzyka
No estimated value is given (0 EUR placeholder). Bidders cannot assess if budget is sufficient or anticipate competitio...
Discrepancy between structured data deadline (2026-07-10 10:00) and XML notice (2026-07-10 12:00). May cause late submi...
Analiza może być niepełna
Przeanalizowano tylko część dokumentacji. Pozostałe dokumenty mogą zawierać dodatkowe wymagania, certyfikaty lub dokumenty do złożenia.
Kluczowe wymagania
Technical
- EU funding requires compliance with EU procurement rules
Administrative
- Open procedure: any interested party may submit a tender
- Electronic submission via achatpublic.com is required
Wymagania mogą być niepełne.
Kryteria udzielenia
Lot 1
Zamawiający
Lokalizacja
Compiegne, FRA
Profil zamawiającego
Identyfikator
19601223100169
Działalność
Education
Części (1)
LOT-0001
Acquisition of a field emission gun scanning electron microscope (MEB FEG) with variable pressure
Supply and delivery of one MEB FEG microscope, including associated software, warranty, and after-sales support. Duration 10 months. EU-funded.
EUR 0
Szacowana wartość
Lokalizacja
Czas trwania
Kategoria
Kryteria udzielenia
Termin
Szczegóły kryteriów
Critère n°1 : Valeur technique (70%) Sous-critère 1 (30%) : caractéristiques, fonctionnalités et performances du MEB Sous-critère 2 (30%) : évaluation des analyses d'échantillons envoyés Sous-critère 3 (10%) : caractéristiques et performances du logiciel Voir règlement de la consultation
Prix de l'offre globale
Qualité du service-après-vente (10%) Sous-critère 1 : Contenu de la garantie proposée (5%) Sous-critère 2 : Délais et modalités d’assistance à distance et d’intervention sur site en cas de dysfonctionnement, durée de vie et disponibilités des pièces détachées, équipe technique, (5%)
Uwaga do wartości
Pokaż oryginalne dane TED
Oryginalny tytuł części
Acquisition d'un microscope électronique à balayage, field emission gun (MEB FEG), à pression variable pour l'université de technologie de Compiègne
Oryginalny opis TED
Acquisition d'un microscope électronique à balayage, field emission gun (MEB FEG), à pression variable pour l'université de technologie de Compiègne
Szczegóły zamówienia
- Data publikacji
- 09 Jun 2026
- Języki
- French
Metadane referencyjne
- Podstawa prawna
- 32014L0024
Identyfikatory referencyjne
- ID przetargu
- 397687-2026
Dokumenty (2)
Podobne przetargi
Sweden – Scanning electron microscopes – Focused Ion Beam, Scanning Electron Microscope (FIB-SEM)
France – Scanning electron microscopes – Microscope électronique à balayage équipé d’un spectromètre EDS et d’accessoires spécifiques
Switzerland – Scanning electron microscopes – MEBMHN_A1 / Acquisition d'un microscope électronique à balayage
Ocena szansy
Skąd ta ocena?
Szansa
50 / 100
Złożoność
60 / 100
Czynniki ryzyka
No estimated value is given (0 EUR placeholder). Bidders cannot assess if budget is sufficient or anticipate competitio...
Discrepancy between structured data deadline (2026-07-10 10:00) and XML notice (2026-07-10 12:00). May cause late submi...
Głęboka analiza portfolio
Wykorzystuje:
- Description
- Industries & Services
- Capabilities
- Market & Experience
- Certifications