Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope
Oryginalny tytuł ogłoszenia
Sweden – Scanning electron microscopes – Focused Ion Beam, Scanning Electron Microscope (FIB-SEM)
Ocena szansy
Skąd ta ocena?
Szansa
68 / 100
Złożoność
42 / 100
Czynniki ryzyka
The notice references procurement documents, but no separate extracted procurement document text was provided for analy...
The instrument must meet requirements listed in the procurement documents, but those detailed requirements are not visi...
Submission deadline in 0 days
Głęboka analiza portfolio
Wykorzystuje:
- Description
- Industries & Services
- Capabilities
- Market & Experience
- Certifications
Przegląd
Strong opportunityKluczowe fakty
- SEK 28M estimated value
- Supplies contract
- 1 lot
- Duration until Mar 2028
- Supply of a Focused Ion Beam, Scanning Electron Microscope (FIB-SEM).
- Instrument to be used for high-resolution imaging, materials analysis, TEM sample preparation, and experiments at MAX IV.
Pokaż pełne podsumowanie
Open supply tender by Lunds universitet for one FIB-SEM instrument (Focused Ion Beam, Scanning Electron Microscope) for Lund Nano Lab. The contract value is SEK 28,000,000 and electronic submission is required. The notice and XML are consistent on scope, procedure, and deadline; no extracted procurement document text beyond the XML notice was provided, so detailed technical requirements are not analyzed here.
Ryzyka
The notice references procurement documents, but no separate extracted procurement document text was provided for analy...
The instrument must meet requirements listed in the procurement documents, but those detailed requirements are not visi...
Submission deadline in 0 days
Analiza może być niepełna
Przeanalizowano tylko część dokumentacji. Pozostałe dokumenty mogą zawierać dodatkowe wymagania, certyfikaty lub dokumenty do złożenia.
Kluczowe wymagania
Technical
- Contract nature is supplies.
Administrative
- Electronic submission is required.
- Tender language is English.
Kryteria udzielenia
Lot 1
Zamawiający
Nazwa
Lokalizacja
Lund, SWE
Strona
Profil zamawiającego
Identyfikator
202100-3211
Działalność
Education
Części (1)
LOT-0001
Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope
Supply of one Focused Ion Beam, Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) for Lund Nano Lab at Lund University, intended for high-resolution imaging, materials analysis, TEM sample preparation, and experiments at MAX IV. Place of performance is Sweden, region SE224 (Lund area).
EUR 2.5M
Szacowana wartość
Lokalizacja
Czas trwania
Kategoria
Kryteria udzielenia
Termin
Szczegóły kryteriów
Price
Dodatkowe kody CPV
Uwaga do wartości
Pokaż oryginalne dane TED
Oryginalny tytuł części
Focused Ion Beam, Scanning Electron Microscope (FIB-SEM)
Oryginalny opis TED
.
Szczegóły zamówienia
- Data publikacji
- 01 Jul 2026
- Języki
- English
Metadane referencyjne
- Podstawa prawna
- 32014L0024
Identyfikatory referencyjne
- ID przetargu
- 456632-2026
Dokumenty (1)
Podobne przetargi
Ocena szansy
Skąd ta ocena?
Szansa
68 / 100
Złożoność
42 / 100
Czynniki ryzyka
The notice references procurement documents, but no separate extracted procurement document text was provided for analy...
The instrument must meet requirements listed in the procurement documents, but those detailed requirements are not visi...
Submission deadline in 0 days
Głęboka analiza portfolio
Wykorzystuje:
- Description
- Industries & Services
- Capabilities
- Market & Experience
- Certifications