Scanning electron microscope
Titre original de l'avis
Germany – Microscopes – Rasterelektronenmikroskop
Score d'opportunité
Pourquoi ce score ?
Opportunité
0 / 100
Complexité
0 / 100
Analyse approfondie du portefeuille
Utilise:
- Description
- Industries & Services
- Capabilities
- Market & Experience
- Certifications
Informations clés
- Pouvoir adjudicateur
- Freistaat Bayern, vertreten durch die Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg
- Pays
- Allemagne
- CPV
- 38510000 - Microscopes
- Date limite
- Jul 21, 2026
Analyse IA de l'appel d'offres
Tenderwize prépare une analyse IA de cet appel d'offres à partir de l'avis TED et des documents de consultation : périmètre, exigences clés, critères de sélection, risques et questions à poser à l'acheteur. L'analyse est générée à l'ouverture de l'appel d'offres.
Critères d'attribution
Lot 1
Acheteur
Localisation
Erlangen, DEU
Site web
Identifiant
47b0e6a3-219e-41c9-a4eb-ff3860027eb5
Activité
Education
Lots (1)
LOT-0001
Rasterelektronenmikroskop
Beschafft werden soll ein hochauflösendes analytisches Rasterelektronenmikroskop mit Hochvakuum- und Niedervakuumbetrieb, integrierter energiedispersiver Röntgenmikroanalyse, Detektorausstattung, Probenpositionierung, Steuer- und Auswertesoftware, Zubehör, Installation, Einweisung und Applikationstraining. Das System muss für materialwissenschaftliche Untersuchungen, hochauflösende Bildgebung, Elementanalysen, Elementverteilungsbilder, automatisierte Messabläufe und korrelative Probennavigation geeignet sein.
Localisation
Catégorie
Critères d'attribution
Détails des critères
Preis
https://www.evergabe.bayern.de/evergabe.bieter/api/supplier/external/subproject/95d3c1ab-2452-4f9a-afff-8c2bf08c358a/awardcriteria
Détails de la procédure
- Date de publication
- 30 Jun 2026
- Langues
- German
Métadonnées de référence
- Base juridique
- 32014L0024
Identifiants de référence
- ID de l'appel d'offres
- 452591-2026
Documents (1)
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