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Scanning electron microscope

Freistaat Bayern, vertreten durch die Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg·Erlangen, Germany·Expired · Jul 21, 2026·Open·Supplies
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Germany – Microscopes – Rasterelektronenmikroskop

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Critères d'attribution

Lot 1

Preis — 50%Leistungsbewertung gemäß Kriterienkatalog — 50%

Acheteur

Localisation

Erlangen, DEU

Identifiant

47b0e6a3-219e-41c9-a4eb-ff3860027eb5

Activité

Education

Lots (1)

LOT-0001

Rasterelektronenmikroskop

Beschafft werden soll ein hochauflösendes analytisches Rasterelektronenmikroskop mit Hochvakuum- und Niedervakuumbetrieb, integrierter energiedispersiver Röntgenmikroanalyse, Detektorausstattung, Probenpositionierung, Steuer- und Auswertesoftware, Zubehör, Installation, Einweisung und Applikationstraining. Das System muss für materialwissenschaftliche Untersuchungen, hochauflösende Bildgebung, Elementanalysen, Elementverteilungsbilder, automatisierte Messabläufe und korrelative Probennavigation geeignet sein.

SuppliesEU fundedElectronic submission

Localisation

Erlangen, Germany

Catégorie

Microscopes

Critères d'attribution

Preis; Leistungsbewertung gemäß Kriterienkatalog

Détails de la procédure

Date de publication
30 Jun 2026
Langues
German

Métadonnées de référence

Base juridique
32014L0024

Identifiants de référence

ID de l'appel d'offres
452591-2026

Documents (1)

Document de consultation 1

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