Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM)

Sweden – Scanning electron microscopes – SEM

France – Scanning electron microscopes – Microscope électronique à balayage équipé d’un spectromètre EDS et d’accessoires spécifiques

Switzerland – Scanning electron microscopes – MEBMHN_A1 / Acquisition d'un microscope électronique à balayage

Germany – Scanning electron microscopes – Lieferung eines Rasterelektronenmikroskop mit EDXS-Analysesystem einschließlich Nebenleistungen (Installation, Wartung, Support)

Germany – Scanning electron microscopes – Erneuerung Rasterelektronenmikroskop (FEI XL30)

Czechia – Scanning electron microscopes – ERDFIII_Nákup rastrovacího elektronového mikroskopu