Supply of optical metrology equipment 100/150/200mm
Oryginalny tytuł ogłoszenia
France – Electronic, electromechanical and electrotechnical supplies – Fourniture d’un équipement de métrologie optique 100/150/200mm
Ocena szansy
Skąd ta ocena?
Szansa
50 / 100
Złożoność
50 / 100
Czynniki ryzyka
No real estimated value given; bidders cannot gauge project size or expected budget.
Full award criteria not disclosed in notice; may include quality, technical, or after-sales criteria that could outweig...
Głęboka analiza portfolio
Wykorzystuje:
- Description
- Industries & Services
- Capabilities
- Market & Experience
- Certifications
Przegląd
Moderate opportunityKluczowe fakty
- EUR 1 estimated value
- Supplies contract
- 1 lot
- Duration 12 MONTH
- Supply of an optical metrology system for inspection of unstructured wafers (100mm, 150mm, 200mm)
- System must inspect thin and thick substrates, detect defects, and capture microscope images
Pokaż pełne podsumowanie
This tender by CEA/GRENOBLE involves the procurement of an optical metrology system for inspecting unstructured wafers of 100mm, 150mm, and 200mm. The system must handle thin and thick substrates, detect defects, and capture images. The contract includes base equipment, mandatory extended warranty (OPT1), and optional items (heat exchangers, transformer, training). The estimated value is indicated as 1 EUR, likely a placeholder; no actual budget is disclosed. The procedure is a negotiated procedure with call for competition (neg-w-call). Submission is electronic via the French procurement platform. Award criteria include price and other criteria not specified in the notice. The contract is EU-funded (FEDER). Only one lot identified.
Ryzyka
No real estimated value given; bidders cannot gauge project size or expected budget.
Full award criteria not disclosed in notice; may include quality, technical, or after-sales criteria that could outweig...
Analiza może być niepełna
Przeanalizowano tylko część dokumentacji. Pozostałe dokumenty mogą zawierać dodatkowe wymagania, certyfikaty lub dokumenty do złożenia.
Kluczowe wymagania
Technical
- Capable of inspecting wafers of 100mm, 150mm, 200mm (bridge tool)
- Handle both thin and thick substrates
- Ability to inspect exotic substrates
Wymagania mogą być niepełne.
Kryteria udzielenia
Lot 1
Zamawiający
Nazwa
Lokalizacja
Grenoble, FRA
Strona
Profil zamawiającego
Identyfikator
775 685 019 00298
Działalność
Education
Części (1)
LOT-0001
Supply of optical metrology equipment 100/150/200mm
One lot for the supply, installation, and commissioning of an optical inspection system for wafers. Includes base equipment, mandatory 1-year warranty extension, and optional items. Delivery DAP CEA Grenoble. Duration 12 months.
EUR 1
Szacowana wartość
Lokalizacja
Czas trwania
Kategoria
Kryteria udzielenia
Termin
Szczegóły kryteriów
Le prix n'est pas le seul critère d'attribution et tous les critères ne sont énoncés que dans les documents de passation de marchés (Translation for information : Price is not the only award criterion and all criteria are stated only in the procurement documents).
Dodatkowe kody CPV
Uwaga do wartości
Pokaż oryginalne dane TED
Oryginalny tytuł części
Fourniture d’un équipement de métrologie optique 100/150/200mm
Oryginalny opis TED
Dans le cadre de ses activités de recherche et de développement de partenariats, le CEA LETI souhaite acquérir un système d’inspection optique dédié aux plaquettes non structurées, capable d’inspecter des plaquettes de 100 mm, 150 mm et 200 mm (dit « outil pont »), afin de remplacer les anciens systèmes utilisés jusqu’à présent. L’outil sélectionné doit être capable d’inspecter des substrats fins et épais. Ce système sera utilisé pour la qualification des procédés en salle blanche à différentes étapes du processus (tant que les substrats ne sont pas structurés) ; il doit pouvoir traiter des substrats exotiques et être capable d’inspecter et, à la demande de l’utilisateur, de collecter des images des défauts (acquisition d’images au microscope). Le marché envisagé comprend : - Un équipement de base ; - L'option à chiffrage obligatoire suivant : o OPT1 : Extension d’une année supplémentaire de la garantie - Ainsi que les options à chiffrage facultatif suivantes : o OPT2 : Echangeurs de chaleur / refroidisseurs o OPT3 : Transformateur o OPT4 : Formation Maintenance 1er niveau o OPT5 : Formation Maintenance Avancée o Le prix du transport, assurance comprise, selon les conditions DAP CEA Grenoble (Convention Incoterms ICC 2020)
Szczegóły zamówienia
- Data publikacji
- 30 Jun 2026
- Języki
- French
Metadane referencyjne
- Podstawa prawna
- 32014L0024
Identyfikatory referencyjne
- ID przetargu
- 449595-2026
Dokumenty (1)
Podobne przetargi
Spain – Microelectronic machinery and apparatus – Suministro e instalación de un equipo de litografía óptica de proyección en el ultravioleta profundo, destinado al Instituto de Microelectrónica de Barcelona de la Agencia Estatal Consejo Superior de Investigaciones Científicas.
France – Microelectronic machinery and apparatus – Acquisition d’une paillasse de gravure matériaux III-V pour le CEA de GRENOBLE
Ocena szansy
Skąd ta ocena?
Szansa
50 / 100
Złożoność
50 / 100
Czynniki ryzyka
No real estimated value given; bidders cannot gauge project size or expected budget.
Full award criteria not disclosed in notice; may include quality, technical, or after-sales criteria that could outweig...
Głęboka analiza portfolio
Wykorzystuje:
- Description
- Industries & Services
- Capabilities
- Market & Experience
- Certifications