Tenderwize
Wróć do wyszukiwania

Supply of an optical inspection system compatible with 100, 150 and 200mm

CEA/GRENOBLE·Grenoble, France·Expired · Jul 27, 2026·Neg W Call·Supplies
Zarejestruj się, aby zapisaćOpen documents
Structured notice only
Oryginalny tytuł ogłoszenia

France – Microelectronic machinery and apparatus – Fourniture d’un système d’inspection optique compatible en 100, 150 et 200mm

40/100

Ocena szansy

Needs reviewMedium complexity
SuppliesExpired
Skąd ta ocena?

Szansa

40 / 100

Złożoność

50 / 100

Czynniki ryzyka

No estimated value is provided; may affect go/no-go decision and resource allocation.

Procurement documents (technical specifications, full award criteria) were not analyzed; they may contain critical requ...

Głęboka analiza portfolio

Głęboka analiza dopasowania firmy

Wykorzystuje:

  • Description
  • Industries & Services
  • Capabilities
  • Market & Experience
  • Certifications

Przegląd

Moderate opportunity

Kluczowe fakty

  • Supplies contract
  • 1 lot
  • Duration 12 MONTH
  • Supply and delivery of an optical inspection system for unstructured wafers (100, 150, 200 mm diameters) with advanced sensitivity.
  • Inspection of substrates of various materials and thicknesses.
Pokaż pełne podsumowanie

This tender from CEA LETI (France) seeks an optical inspection system for unstructured wafers of 100, 150, and 200 mm diameters, with advanced sensitivity, for research activities. The contract includes a compulsory option for an extra warranty year and optional options for a transformer and maintenance training. The procedure is negotiated with a call for competition, and the contract is EU-funded (FEDER). No estimated value is provided. The submission deadline is 2026-07-27 (with a minor inconsistency between structured data and XML notice). The tender documents are available online but were not analyzed in detail.

Ryzyka

No estimated value is provided; may affect go/no-go decision and resource allocation.

Procurement documents (technical specifications, full award criteria) were not analyzed; they may contain critical requ...

Analiza może być niepełna

Przeanalizowano tylko część dokumentacji. Pozostałe dokumenty mogą zawierać dodatkowe wymagania, certyfikaty lub dokumenty do złożenia.

Kluczowe wymagania

Technical

  • System must be compatible with 100 mm, 150 mm, and 200 mm wafer diameters.
  • Advanced sensitivity required for unstructured wafers.
  • Ability to inspect substrates of different materials and thicknesses.

Wymagania mogą być niepełne.

Kryteria udzielenia

Lot 1

Price is a criterion but not the only one; full criteria are in the consultation regulations.

Zamawiający

Lokalizacja

Grenoble, FRA

Profil zamawiającego

Otwórz profil

Identyfikator

775 685 019 00298

Działalność

Education

Części (1)

LOT-0001

Supply of an optical inspection system compatible with 100, 150 and 200mm

Acquisition of an optical inspection system for unstructured wafers of 100, 150, and 200 mm diameters with advanced sensitivity, capable of inspecting substrates of different materials and thicknesses. Includes options for extra warranty (mandatory), transformer, and training (optional).

SuppliesEU fundedElectronic submission

Lokalizacja

Grenoble, France

Czas trwania

12 MONTH

Kategoria

Microelectronic machinery and apparatus

Kryteria udzielenia

Price

Termin

Expired Jul 27, 2026

Szczegóły zamówienia

Data publikacji
28 Jun 2026
Języki
French

Metadane referencyjne

Podstawa prawna
32014L0024

Identyfikatory referencyjne

ID przetargu
442951-2026

Dokumenty (1)

Dokument zamówienia 1

Podobne przetargi

Spain – Microelectronic machinery and apparatus – Suministro e instalación de un equipo de litografía óptica de proyección en el ultravioleta profundo, destinado al Instituto de Microelectrónica de Barcelona de la Agencia Estatal Consejo Superior de Investigaciones Científicas.

Sep 9

France – Microelectronic machinery and apparatus – Acquisition d’une paillasse de gravure matériaux III-V pour le CEA de GRENOBLE

Sep 14