Tenderwize
Wróć do wyszukiwania

Supply of Scanning Electron Microscope with EDXS System

Ferdinand-Braun-Institut gGmbH, Leibniz-Institut für Höchstfrequenztechnik·Berlin, Germany·EUR 1M·Expired · Jul 23, 2026·Restricted·Supplies·Framework
Zarejestruj się, aby zapisaćOpen documents
High value
Oryginalny tytuł ogłoszenia

Germany – Scanning electron microscopes – Lieferung eines Rasterelektronenmikroskop mit EDXS-Analysesystem einschließlich Nebenleistungen (Installation, Wartung, Support)

0/100

Ocena szansy

High riskLow complexity
SuppliesFrameworkExpired
Skąd ta ocena?

Szansa

0 / 100

Złożoność

0 / 100

Czynniki ryzyka

Restricted procedure — pre-qualification required

Głęboka analiza portfolio

Głęboka analiza dopasowania firmy

Wykorzystuje:

  • Description
  • Industries & Services
  • Capabilities
  • Market & Experience
  • Certifications

Kryteria udzielenia

Lot 1

Qualitätskriterium Nr. 1 — 4%Qualitätskriterium Nr. 2 — 10%Qualitätskriterium Nr. 3 — 4%Qualitätskriterium Nr. 4 — 4%Qualitätskriterium Nr. 5 — 10%Qualitätskriterium Nr. 6 — 10%Qualitätskriterium Nr. 7 — 8%Qualitätskriterium Nr. 8 — 8%Qualitätskriterium Nr. 9 — 8%Qualitätskriterium Nr. 10 — 4%Preis — 30%

Zamawiający

Lokalizacja

Berlin, DEU

Identyfikator

11-2100046002-96

Działalność

General public services

Części (1)

LOT-0000

Lieferung eines Rasterelektronenmikroskop mit EDXS-Analysesystem einschließlich Nebenleistungen (Installation, Wartung, Support)

Lieferung eines Rasterelektronenmikroskop mit EDXS-Analysesystem einschließlich Nebenleistungen (Installation, Wartung, Support)

SuppliesFrameworkEU fundedElectronic submission

EUR 1M

Szacowana wartość

Lokalizacja

Berlin, Germany

Czas trwania

Nov 2026 - Jan 2027

Kategoria

Scanning electron microscopes

Kryteria udzielenia

Qualitätskriterium Nr. 1; Qualitätskriterium Nr. 2; Qualitätskriterium Nr. 3; Qualitätskriterium Nr. 4; Qualitätskriterium Nr. 5; Qualitätskriterium Nr. 6; Qualitätskriterium Nr. 7; Qualitätskriterium Nr. 8; Qualitätskriterium Nr. 9; Qualitätskriterium Nr. 10; Preis

Szczegóły zamówienia

Data publikacji
16 Jun 2026
Języki
German

Metadane referencyjne

Podstawa prawna
32014L0024

Identyfikatory referencyjne

ID przetargu
416632-2026

Dokumenty (2)

Dokument zamówienia 1Portal składania ofert 1

Podobne przetargi

Sweden – Scanning electron microscopes – Focused Ion Beam, Scanning Electron Microscope (FIB-SEM)

Aug 24

France – Scanning electron microscopes – Microscope électronique à balayage équipé d’un spectromètre EDS et d’accessoires spécifiques

Aug 26

Switzerland – Scanning electron microscopes – MEBMHN_A1 / Acquisition d'un microscope électronique à balayage

Sep 7