Supply of optical metrology equipment 100/150/200mm
Titre original de l'avis
France – Electronic, electromechanical and electrotechnical supplies – Fourniture d’un équipement de métrologie optique 100/150/200mm
Score d'opportunité
Pourquoi ce score ?
Opportunité
50 / 100
Complexité
50 / 100
Facteurs de risque
No real estimated value given; bidders cannot gauge project size or expected budget.
Full award criteria not disclosed in notice; may include quality, technical, or after-sales criteria that could outweig...
Analyse approfondie du portefeuille
Utilise:
- Description
- Industries & Services
- Capabilities
- Market & Experience
- Certifications
Informations clés
- Pouvoir adjudicateur
- CEA Grenoble
- Pays
- France
- CPV
- 31712100 - Microelectronic machinery and apparatus +1 autres
- Date limite
- Aug 06, 2026
- Valeur estimée
- EUR 1
Aperçu
Moderate opportunityFaits clés
- EUR 1 estimated value
- Supplies contract
- 1 lot
- Duration 12 MONTH
- Supply of an optical metrology system for inspection of unstructured wafers (100mm, 150mm, 200mm)
- System must inspect thin and thick substrates, detect defects, and capture microscope images
Afficher le résumé complet
This tender by CEA/GRENOBLE involves the procurement of an optical metrology system for inspecting unstructured wafers of 100mm, 150mm, and 200mm. The system must handle thin and thick substrates, detect defects, and capture images. The contract includes base equipment, mandatory extended warranty (OPT1), and optional items (heat exchangers, transformer, training). The estimated value is indicated as 1 EUR, likely a placeholder; no actual budget is disclosed. The procedure is a negotiated procedure with call for competition (neg-w-call). Submission is electronic via the French procurement platform. Award criteria include price and other criteria not specified in the notice. The contract is EU-funded (FEDER). Only one lot identified.
Risques
No real estimated value given; bidders cannot gauge project size or expected budget.
Full award criteria not disclosed in notice; may include quality, technical, or after-sales criteria that could outweig...
L'analyse peut être incomplète
Seule une partie des documents de consultation a été analysée. Des exigences, certificats ou documents de soumission supplémentaires peuvent exister dans les documents restants.
Exigences clés
Technical
- Capable of inspecting wafers of 100mm, 150mm, 200mm (bridge tool)
- Handle both thin and thick substrates
- Ability to inspect exotic substrates
Les exigences peuvent être incomplètes.
Critères d'attribution
Lot 1
Acheteur
Nom
Localisation
Grenoble, FRA
Site web
Profil acheteur
Identifiant
775 685 019 00298
Activité
Education
Lots (1)
LOT-0001
Supply of optical metrology equipment 100/150/200mm
One lot for the supply, installation, and commissioning of an optical inspection system for wafers. Includes base equipment, mandatory 1-year warranty extension, and optional items. Delivery DAP CEA Grenoble. Duration 12 months.
EUR 1
Valeur estimée
Localisation
Durée
Catégorie
Critères d'attribution
Date limite
Détails des critères
Le prix n'est pas le seul critère d'attribution et tous les critères ne sont énoncés que dans les documents de passation de marchés (Translation for information : Price is not the only award criterion and all criteria are stated only in the procurement documents).
Codes CPV supplémentaires
Note sur la valeur
Afficher les données TED originales
Titre original du lot
Fourniture d’un équipement de métrologie optique 100/150/200mm
Description TED originale
Dans le cadre de ses activités de recherche et de développement de partenariats, le CEA LETI souhaite acquérir un système d’inspection optique dédié aux plaquettes non structurées, capable d’inspecter des plaquettes de 100 mm, 150 mm et 200 mm (dit « outil pont »), afin de remplacer les anciens systèmes utilisés jusqu’à présent. L’outil sélectionné doit être capable d’inspecter des substrats fins et épais. Ce système sera utilisé pour la qualification des procédés en salle blanche à différentes étapes du processus (tant que les substrats ne sont pas structurés) ; il doit pouvoir traiter des substrats exotiques et être capable d’inspecter et, à la demande de l’utilisateur, de collecter des images des défauts (acquisition d’images au microscope). Le marché envisagé comprend : - Un équipement de base ; - L'option à chiffrage obligatoire suivant : o OPT1 : Extension d’une année supplémentaire de la garantie - Ainsi que les options à chiffrage facultatif suivantes : o OPT2 : Echangeurs de chaleur / refroidisseurs o OPT3 : Transformateur o OPT4 : Formation Maintenance 1er niveau o OPT5 : Formation Maintenance Avancée o Le prix du transport, assurance comprise, selon les conditions DAP CEA Grenoble (Convention Incoterms ICC 2020)
Détails de la procédure
- Date de publication
- 30 Jun 2026
- Langues
- French
Métadonnées de référence
- Base juridique
- 32014L0024
Identifiants de référence
- ID de l'appel d'offres
- 449595-2026
Documents (1)
Score d'opportunité
Pourquoi ce score ?
Opportunité
50 / 100
Complexité
50 / 100
Facteurs de risque
No real estimated value given; bidders cannot gauge project size or expected budget.
Full award criteria not disclosed in notice; may include quality, technical, or after-sales criteria that could outweig...
Analyse approfondie du portefeuille
Utilise:
- Description
- Industries & Services
- Capabilities
- Market & Experience
- Certifications