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Scanning electron microscope with EDS, EBSD, and CL for UAM

Rectorado de la Universidad Autónoma de Madrid·Madrid, Spain·EUR 388k·Expired · Jul 22, 2026·Open·Supplies
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Titre original de l'avis

Spain – Electron microscopes – Suministro e instalación de un Microscopio Electrónico de Barrido con alto vacío y presión controlada, Espectroscopía de Energía Dispersiva de Rayos X, Difracción de Electrones Retrodispersados y Catodoluminiscencia para el SIdI de la Universidad Autónoma de Madrid (UAM).

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Informations clés

Pouvoir adjudicateur
Rectorado de la Universidad Autónoma de Madrid
Pays
Espagne
CPV
38511000 - Electron microscopes
Date limite
Jul 22, 2026
Valeur estimée
EUR 388k

Analyse IA de l'appel d'offres

Tenderwize prépare une analyse IA de cet appel d'offres à partir de l'avis TED et des documents de consultation : périmètre, exigences clés, critères de sélection, risques et questions à poser à l'acheteur. L'analyse est générée à l'ouverture de l'appel d'offres.

Critères d'attribution

Lot 1

Ampliación plazo garantía — 30%Inclusión de "plasma cleaner" — 5%Inclusión de pletina Peltier — 10%Instalación de detector nuevo de EDX — 10%Precio — 20%Sistemas de preparación de muestras — 10%Software de metrología y reconstrucción de superficies — 15%

Acheteur

Localisation

Madrid, ESP

Site web

www.uam.es

Profil acheteur

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Identifiant

40410210076921

Activité

Education

Lots (1)

LOT-0000

Suministro e instalación de un Microscopio Electrónico de Barrido con alto vacío y presión controlada, Espectroscopía de Energía Dispersiva de Rayos X, Difracción de Electrones Retrodispersados y Catodoluminiscencia para el SIdI de la Universidad Autónoma de Madrid (UAM).

Procedimiento abierto.

SuppliesEU fundedElectronic submission

EUR 388k

Valeur estimée

Localisation

ES300, Spain

Durée

Sep 2026

Catégorie

Electron microscopes

Critères d'attribution

Ampliación plazo garantía; Inclusión de "plasma cleaner"; Inclusión de pletina Peltier; Instalación de detector nuevo de EDX; Precio; Sistemas de preparación de muestras; Software de metrología y reconstrucción de superficies

Détails de la procédure

Date de publication
23 Jun 2026
Langues
Spanish

Métadonnées de référence

Base juridique
32014L0024

Identifiants de référence

ID de l'appel d'offres
428787-2026

Documents (1)

Document de consultation 1