Advanced research equipment for COPE-Nano
Original notice title
Greece – Scanning electron microscopes – Προμήθεια προηγμένου ερευνητικού εξοπλισμού για το Ευρωπαϊκό Κέντρο Αριστείας COPE-Nano.
Opportunity Score
Why this score?
Opportunity
0 / 100
Complexity
0 / 100
Deep Portfolio Analysis
Uses:
- Description
- Industries & Services
- Capabilities
- Market & Experience
- Certifications
Tender facts
- Contracting authority
- ΕΙΔΙΚΟΣ ΛΟΓΑΡΙΑΣΜΟΣ ΚΟΝΔΥΛΙΩΝ ΕΡΕΥΝΑΣ ΑΠΘ
- Country
- Greece
- CPV
- 38511100 - Scanning electron microscopes +6 more
- Deadline
- Dec 09, 2026
AI tender analysis
Tenderwize prepares an AI analysis of this tender based on the TED notice and procurement documents: scope of work, key requirements, eligibility criteria, risks and questions for the buyer. The analysis is generated when the tender is opened.
Buyer
Location
Θεσσαλονικη, GRC
Website
Buyer profile
Identifier
1020.Ε00324.0001
Activity
Education
Lots (8)
LOT-0001
Τμήμα 1: Περιβαλλοντικό Ηλεκτρονικό Μικροσκόπιο Σάρωσης Πεδίου Εκπομπής (FEG-ESEM)
Τμήμα 1: Περιβαλλοντικό Ηλεκτρονικό Μικροσκόπιο Σάρωσης Πεδίου Εκπομπής (FEG-ESEM)
EUR 290k
Estimated value
Location
Duration
Category
Award details
Τμήμα 1: Περιβαλλοντικό Ηλεκτρονικό Μικροσκόπιο Σάρωσης Πεδίου Εκπομπής (FEG-ESEM)
LOT-0002
Τμήμα 2: Σύστημα Φασματοσκοπικής Ελλειψομετρίας DUV–VIS–NIR
Τμήμα 2: Σύστημα Φασματοσκοπικής Ελλειψομετρίας DUV–VIS–NIR
EUR 190k
Estimated value
Location
Duration
Category
Award details
Τμήμα 2: Σύστημα Φασματοσκοπικής Ελλειψομετρίας DUV–VIS–NIR
LOT-0003
Τμήμα 3: Σύστημα Φασματοφωτομέτρου FTIR Ερευνητικού Τύπου
Τμήμα 3: Σύστημα Φασματοφωτομέτρου FTIR Ερευνητικού Τύπου
EUR 70k
Estimated value
Location
Duration
Category
Award details
Τμήμα 3: Σύστημα Φασματοφωτομέτρου FTIR Ερευνητικού Τύπου
LOT-0004
Τμήμα 4: Σύστημα Μικροκατεργασίας Υλικών με Laser Υπερβραχέων Παλμών (Femtosecond)
Τμήμα 4: Σύστημα Μικροκατεργασίας Υλικών με Laser Υπερβραχέων Παλμών (Femtosecond)
EUR 580k
Estimated value
Location
Duration
Category
Award details
Τμήμα 4: Σύστημα Μικροκατεργασίας Υλικών με Laser Υπερβραχέων Παλμών (Femtosecond)
LOT-0005
Τμήμα 5: Σύστημα Μικροσκοπίας Raman Ερευνητικού Τύπου
Τμήμα 5: Σύστημα Μικροσκοπίας Raman Ερευνητικού Τύπου
EUR 216.2k
Estimated value
Location
Duration
Category
Award details
Τμήμα 5: Σύστημα Μικροσκοπίας Raman Ερευνητικού Τύπου
LOT-0006
Τμήμα 6: Σύστημα Μικροσκοπίας Σάρωσης Ατομικών Δυνάμεων (Scanning Probe Microscope)
Τμήμα 6: Σύστημα Μικροσκοπίας Σάρωσης Ατομικών Δυνάμεων (Scanning Probe Microscope)
EUR 250k
Estimated value
Location
Duration
Category
Award details
Τμήμα 6: Σύστημα Μικροσκοπίας Σάρωσης Ατομικών Δυνάμεων (Scanning Probe Microscope)
LOT-0007
Τμήμα 7: Ψηφιακό Σύστημα Εναπόθεσης Υλικών, Αυτοματοποιημένης Μικροσυναρμολόγησης και Συγκόλλησης σε Υποστρώματα από Ύφασμα και PET
Τμήμα 7: Ψηφιακό Σύστημα Εναπόθεσης Υλικών, Αυτοματοποιημένης Μικροσυναρμολόγησης και Συγκόλλησης σε Υποστρώματα από Ύφασμα και PET
EUR 190k
Estimated value
Location
Duration
Category
Award details
Τμήμα 7: Ψηφιακό Σύστημα Εναπόθεσης Υλικών, Αυτοματοποιημένης Μικροσυναρμολόγησης και Συγκόλλησης σε Υποστρώματα από Ύφασμα και PET
LOT-0008
Τμήμα 8: Φορητή Διάταξη Μέτρησης Φωτοσύνθεσης
Τμήμα 8: Φορητή Διάταξη Μέτρησης Φωτοσύνθεσης
EUR 77k
Estimated value
Location
Duration
Category
Award details
Τμήμα 8: Φορητή Διάταξη Μέτρησης Φωτοσύνθεσης
Procurement Details
- Publication date
- 08 Nov 2026
- Languages
- Greek
Reference metadata
- Legal basis
- 32014L0024
Reference IDs
- Tender ID
- 777967-2026
Documents (1)
Similar tenders
Spain – Microelectronic machinery and apparatus and microsystems – Suministro de sistema de grabado mediante haz iónico (Ion beam Etching - IBE)
Czechia – Detection and analysis apparatus – Analytické vybavení pro chemickou laboratoř CirkArena – UTB
Spain – Spectrometers – Espectrómetro de masas de relaciones isotópicas
Malta – Analysis apparatus – WSC/T/049/2026 - SUPPLIES - SUPPLY, DELIVERY, AND 3-YEAR MAINTENANCE SUPPORT OF WATER QUALITY DISINFECTION MONITORING STATIONS FOR THE WATER SERVICES CORPORATION
Italy – Spectrum analyser – Fornitura di una piattaforma aperta per l'analisi di superfici mediante spettroscopia di fotoelettroni (XPS).
Germany – Construction work of elevated tanks for drinking water – HB Lewerberg III - Neubau: Los 3 - EMSR-Technik
Opportunity Score
Why this score?
Opportunity
0 / 100
Complexity
0 / 100
Deep Portfolio Analysis
Uses:
- Description
- Industries & Services
- Capabilities
- Market & Experience
- Certifications