High-resolution transmission electron microscope with training for Poznań University of Technology

Cena stanowi 60%

Kryterium 2: Mikroskop transmisyjny - Minimum cztery niezależne detektory EDS w technologii SDD umieszczone wewnątrz soczewki obiektywowej, chronione przesłonami i rozmieszczone symetrycznie względem próbki (20 pkt = 20%) Warunki oceny dla powyższego kryterium będą oceniane w następujący sposób: • Spełnienie kryterium 20 pkt. • Niespełnienie kryterium 0 pkt.

Kryterium 3: Mikroskop transmisyjny System detekcji w trybie STEM o co najmniej 16 niezależnych segmentach, co umożliwi realizację wszystkich obecnych (m.in. HAADF, ADF, ABF) i przyszłych technik STEM opartych nie tylko o rejestrację natężenia, ale również położenia środka ciężkości wiązki obrazowej (5 pkt = 5%) Warunki oceny dla powyższego kryterium będą oceniane w następujący sposób: • Spełnienie kryterium 5 pkt. • Niespełnienie kryterium 0 pkt.

Kryterium 4: Mikroskop skaningowy SEM/FIB - Tryb niskiej próżni z maksymalnym ciśnieniem roboczym pary wodnej nie mniejszym niż 500 Pa wraz z dedykowanym detektorem elektronów wtórnych Warunki oceny dla powyższego kryterium będą oceniane w następujący sposób: • Spełnienie kryterium 5 pkt. • Niespełnienie kryterium 0 pkt.

Kryterium 5: Mikroskop skaningowy SEM/FIB - Detektor elektronów wstecznie rozproszonych BSE z podziałem na minimum 4 niezależnie koncentryczne pierścienie i dodatkowym podziałem dwóch zewnętrznych pierścieni na co najmniej 3 niezależne sektory kątowe. Odczyt pierścieni pozwoli na selektywne obrazowanie kontrastu materiałowego przy różnych kątach rozpraszania elektronów BSE. Odczyt sektorów kątowych pozwoli na obrazowanie topografii powierzchni. Przez słowo „niezależne” rozumie się możliwość odczytu sygnału z każdego pierścienia jednocześnie i z każdego sektora jednocześnie. Detektor powinien być zamontowany na ruchomym, pneumatycznie wsuwanym ramieniu pozwalającym na jego umieszczenie pod nabiegunnikiem bez konieczności zapowietrzania mikroskopu. Obsługa detektora, w tym jego wprowadzanie i wyprowadzanie, musi być realizowana z poziomu głównego oprogramowania mikroskopu (10 pkt = 10%) Warunki oceny dla powyższego kryterium będą oceniane w następujący sposób: • Spełnienie kryterium 10 pkt. • Niespełnienie kryterium 0 pkt.