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Rasterelektronenmikroskop mit EDS, EBSD und CL für die UAM

Rectorado de la Universidad Autónoma de Madrid·Madrid, Spain·EUR 388k·Expired · Jul 22, 2026·Open·Supplies
Originaltitel der Bekanntmachung

Spain – Electron microscopes – Suministro e instalación de un Microscopio Electrónico de Barrido con alto vacío y presión controlada, Espectroscopía de Energía Dispersiva de Rayos X, Difracción de Electrones Retrodispersados y Catodoluminiscencia para el SIdI de la Universidad Autónoma de Madrid (UAM).

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Tiefe Portfolioanalyse

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Verwendet:

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Eckdaten der Ausschreibung

Öffentlicher Auftraggeber
Rectorado de la Universidad Autónoma de Madrid
Land
Spanien
CPV
38511000 - Electron microscopes
Frist
Jul 22, 2026
Geschätzter Wert
EUR 388k

KI-Analyse der Ausschreibung

Tenderwize erstellt auf Basis der TED-Bekanntmachung und der Vergabeunterlagen eine KI-Analyse dieser Ausschreibung: Leistungsumfang, zentrale Anforderungen, Eignungskriterien, Risiken und Fragen an den Auftraggeber. Die Analyse wird beim Öffnen der Ausschreibung erstellt.

Zuschlagskriterien

Lot 1

Ampliación plazo garantía — 30%Inclusión de "plasma cleaner" — 5%Inclusión de pletina Peltier — 10%Instalación de detector nuevo de EDX — 10%Precio — 20%Sistemas de preparación de muestras — 10%Software de metrología y reconstrucción de superficies — 15%

Auftraggeber

Ort

Madrid, ESP

Website

www.uam.es

Auftraggeberprofil

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Kennung

40410210076921

Tätigkeit

Education

Lose (1)

LOT-0000

Suministro e instalación de un Microscopio Electrónico de Barrido con alto vacío y presión controlada, Espectroscopía de Energía Dispersiva de Rayos X, Difracción de Electrones Retrodispersados y Catodoluminiscencia para el SIdI de la Universidad Autónoma de Madrid (UAM).

Procedimiento abierto.

SuppliesEU fundedElectronic submission

EUR 388k

Geschätzter Wert

Ort

ES300, Spain

Dauer

Sep 2026

Kategorie

Electron microscopes

Zuschlagskriterien

Ampliación plazo garantía; Inclusión de "plasma cleaner"; Inclusión de pletina Peltier; Instalación de detector nuevo de EDX; Precio; Sistemas de preparación de muestras; Software de metrología y reconstrucción de superficies

Vergabedetails

Veröffentlichungsdatum
23 Jun 2026
Sprachen
Spanish

Referenzmetadaten

Rechtsgrundlage
32014L0024

Referenz-IDs

Ausschreibungs-ID
428787-2026

Dokumente (1)

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