X-ray photoelectron spectrometer for IPF

LOT-0001

IPF 26015 Röntgen-Photoelektronenspektrometers für das IPF

Für qualitative und quantitative Untersuchungen zur stofflichen Zusammensetzung von festen Oberflächen und oberflächennahen Schichten beabsichtigt das Leibniz-Institut für Polymer-forschung Dresden e. V. (IPF) die Beschaffung eines Röntgen-Photoelektronenspektrometers (XPS). Strukturanalytische Untersuchungen zur Art und Anzahl funktioneller Oberflächengrup-pen sowie der Wunsch nach Bestimmung des Oxidationszustandes einzelner Elemente erfor-dern eine hohe energetische Auflösung des Spektrometers (High-resolution XPS) bei einer möglichst hohe Zählrate. Möglichkeiten zu tiefenanalytischen Untersuchungen unter Varia-tion des Take-off-Winkels aber auch durch Sputtern (Depth profiling) sind erwünscht. Bildge-bende Verfahren (Imaging XPS) zur Gewinnung von Informationen über die laterale Verteilung von Elementen und/oder funktioneller Gruppen sollen integraler Bestandteil des Spektrome-ters sein. Untersuchungsgegenstände sind vorzugsweise organische polymere Stoffe, die in Form dünner Filme, als Spritzgussplatten, als Granulate, als Fasern oder als Pulver vorliegen können. Auch für die Untersuchung anderer Materialien, wie bspw. Metalle, Metalloxide, keramische Materialien, die Allotropen des Kohlenstoffs (Ruße, Fulleren, Carbon-Nanotubes, Kohlenstoff-fasern u.a.) sowie Hybridmaterialien, die aus Polymeren und den hier genannten anderen Ma-terialien gebildet werden, soll das Spektrometer geeignet sein. Zum Erhalt ihrer makroskopi-schen Struktur erfordern XPS-Untersuchungen biologischer Präparate und Polyelektrolytfilme das Spektroskopieren bei tiefen Temperaturen (Cryo-XPS); das Verfolgen von Polyadditionen und Ringöffnungspolymerisationen das Arbeiten bei erhöhter Temperatur (> 300 °C).